Eveniment științific romānesc de prestigiu, ajuns la cea de-a 35-a
![](Images/gray_1x1.jpg)
Între puținele evenimente ştiinţifice româneşti care rezistă în timp, Conferința Internațională de Semiconductoare, organizată de Institutul Național de Cercetare-Dezvoltare pentru Microtehnologie – IMT-Bucureşti și aflată în 2012 la a 35-a ediție, face o figură aparte. Desfășurată fără întrerupere, an de an, începând din 1978 (respectându-și astfel denumirea inițială, aceea de «Conferință Anuală de Semiconductoare», care a dat și acronimul CAS), conferința a devenit din 1991 internațională și a intrat apoi sub egida Academiei Române și a unor prestigioase organizații la nivel mondial: IEEE-Electron Devices Society, IEEE-Romania Section, ED-Romania Chapter și Electrochemical Society Inc.
Acad. Dan Dascălu, General Chairman al CAS 2012 (a 35-a ediţie),
rostind cuvântul inaugural al conferinței.
De-a lungul anilor, conducerea IMT-București, Acad. Dan Dascălu, care este şi General Chairman al conferinţei, a adaptat profilul CAS, în acord cu tendințele evoluției științei semiconductorilor pe plan mondial, de la fizica și tehnologia dispozitivelor cu semiconductoare, către micro și nanotehnologii. A fost soluția fericită pentru a menține participarea internaţională a CAS. Trebuie remarcat faptul ca ESSDERC, conferinţa similară în domeniu, este la a 42-a ediţie...
Prezentare orală la Secţiunea studenţească.
CAS 2012 s-a desfășurat la hotel „Sinaia” din Sinaia (gazda tradițională a conferinței începând cu anul 1986), între 15 și 17 octombrie, fiind organizată de IMT-București cu sprijinul Ministerului Educației, Cercetării, Tineretului și Sportului şi al Universităţii „Politehnica” Bucureşti. Au participat peste 150 de specialiști din cercetare, industrie și învățământ (cadre universitare și studenți), 44 din ei provenind din 16 țări străine, între care Anglia, Elveția, Estonia, Franța, Finlanda, Germania, Grecia, Italia, Republica Moldova, Spania, Suedia, Africa de Sud și Japonia.
CAS 2012 - Imagine de la Secțiunea de postere.
La această ediţie, programul a cuprins 18 secțiuni de comunicări cu prezentare orală sau poster, între care trei secțiuni plenare şi o secţiune cu lucrări studenţeşti. În cele 9 lucrări invitate și 93 de lucrări curente (între care 35 de lucrări cu prim-autori din străinătate), s-au prezentat cele mai noi rezultate obținute de participanți în domeniile de interes ale conferinței: Nanostructuri și nanotehnologii, Microsenzori, Tehnologie de microsistem, Dispozitive, circuite și microsisteme de microunde și de unde milimetrice, Microfotonică, Materiale avansate, Modelare și simulare, Dispozitive pe carbură de siliciu, Dispozitive și circuite integrate. Trebuie menționat că multe dintre lucrări au fost propuse de colective de autori care lucrează la proiecte de cercetare realizate în comun de cercetători români și străini din institute de cercetare, universități sau firme care activează în domeniile abordate de CAS. Firmele, multe internaţionale, de renume, au fost implicate în 20% dintre lucrări, ceea ce reprezintă o participare foarte bună pentru acest tip de conferinţă, frecventat predominant de către zona academică.
Dr. Federico Micciulla, INFN-Laboratori Nazionali di Frascati, Roma, Italia.
Ca în fiecare an, au fost invitați să susțină comunicări specialiști de renume pe plan mondial, cum ar fi: Dr. L. Baggen, IMST GmbH Kamp-Lintfort (Germania), Dr. F. Micciulla, INFN-Laboratori Nazionali di Frascati, Roma, Italia, Dr. C.V. Falub, ETH-Zurich (Elveția), Prof. I. Tiginyanu, Academia de Științe a Republicii Moldova, Dr. R. Staudinger, EV Group (Austria), Dr. T. Leichle, LAAS-CNRS, Toulouse (Franța), Dr. S.Z. Ali, Cambridge CMOS Sensors, (Marea Britanie), Dr. F. Bauer, ABB (Elveția), Dr. M. Gologanu, Honeywell România.
Comunicările conferinței au fost tipărite în „CAS 2012 Proceedings“, într-un tirajde 200 de exemplare, cuprinzând două volume, care însumează aproape 500 de pagini. Păstrându-se tradiția începută la ediția din 1983, volumele au fost oferite participanților în prima zi a conferinței și urmează a fi distribuite în toată lumea prin intermediul IEEE - Electron Devices Society, putând fi accesate pe site-ul IEEE şi fiind înregistrate la Library of Congress, SUA.
Participanţii la conferință au avut acces liber şi la două evenimente-satelit, workshop-uri ale unor proiecte europene din Programul FP 7 al Uniunii Europene. Primul workshop, organizat de IMT-București, este al unui proiect aflat aproape de final, „Enabling MEMS-MMIC technology for cost-effective multifunctional RF-system integration (MEMS-4-MMIC)” (recent prezentat în paginile acestei reviste: v. Market Watch, nr. 143, Martie-Aprilie 2012). Acest proiect de tip STREP este coordonat de către MST GmbH, Germania, iar IMT-București este partener, alături de FOI Suedia, VTT Finlanda, SAAB Suedia, OMMIC Franţa şi CNRS-IEMN Franţa.
CAS 2012 - Imagine din sală în timpul unei secțiuni cu prezentare orală.
Cel de-al doilea proiect, abia început, intitulat „Smart Silicon-on-Insulator Sensing Systems Operating at High Temperature (SOI-HITS)”, este coordonat de către firma Microsemi (Marea Britanie). Workshop-ul intitulat „Smart Sensing on Smart SOI”, organizat de University of Cambridge şi Honeywell România (Sensors and Wireless Laboratory Bucharest - SWLB), a fost prima manifestare publică a acestui proiect, programat să se desfășoare până la finele lui august 2014 și realizat de un consorțiu format din opt parteneri: patru companii - Microsemi (Marea Britanie) – coordonator al proiectului, Honeywell România, Cambridge CMOS Sensors (Marea Britanie), CISSOID (Belgia), trei universități - din Cambridge, Warwick (ambele, Marea Britanie) și Louvain (Belgia), precum și un institut de cercetare - IREC (Spania). Proiectul SOI-HITS își propune realizarea de senzori și sisteme inteligente de senzori (O2, CO2, CO, H2S, temperatură, umiditate, UV-albastru, debit), compatibili cu tehnologia CMOS, capabili să funcționeze în medii ostile (umidități relative de până la 100%), la temperaturi înalte (până la 2250C).
Poza de grup la finalul evenimentului.
Prezentările din cadrul workshop-ului au vizat obiectivele generale ale proiectului și aplicațiile pe baza cărora au fost alese specificațiile senzorilor și ale sistemelor de senzori. A fost, de asemenea, facută o evaluare a materialelor celor mai potrivite pentru încapsularea senzorilor meniți să funcționeze în medii ostile, ca și a celor mai importante aspecte privind proiectarea și realizarea circuitelor electronice primare necesare pentru operarea senzorilor la temperaturi înalte. Discuțiile s-au referit la cele mai recente și performante tehnologii și nanomateriale ce permit funcționarea senzorilor de gaz. Conținutul tuturor prezentărilor este disponibil pe site-ul proiectului: www.soi-hits.eu.
Pentru a marca cea de-a 35-a ediție a conferinței, un concert aniversar (Mozart, Beethoven) a fost susținut la Palatul Cantacuzino din Bușteni de către cvartetul CREDO. Ca o demonstrație a faptului că inginerii nu sunt doar ... ingineri, trebuie spus că unul dintre cei patru membri (ingineri) ai ansamblului CREDO este dr. Petru Dan, specialist recunoscut al domeniului semiconductorilor și unul dintre participanții cu vechime ai CAS.
Cea de a 35-a ediţie a CAS a fost un real succes, fiind prezentate lucrări de înaltă ţinută ştiinţifică în domeniul micro-, nano-, biotehnologiilor, precum şi în cel al circuitelor integrate sau al dispozitivelor de putere realizate pe carbură de siliciu. Participanții și-au dat întâlnire la ediția a 36-a a CAS, în octombrie 2013, ediţie care va fi precedată de un eveniment științific european cu un profil asemănător, desfășurat pentru prima dată în Europa de Est, conferința ESSCIRC/ESSDERC - „European Solid-State Device Research Conference”/„European Solid-State Circuits Conference” (16-20 septembrie 2013), eveniment organizat de către un consorţiu format din: Infineon Technologies România, Universitatea „Politehnica” din Bucureşti, Universitatea Tehnică „Gh. Asachi” din Iaşi şi Institutul Naţional de Cercetare -Dezvoltare pentru Microtehnologie - IMT Bucureşti.
![](Images/gray_1x1.jpg)
Parerea ta conteaza:
![](Images/gray_1x1.jpg)
![](Images/gray_1x1.jpg)